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基線平直度與整機的光度噪聲的主要區別
来源:/   作者:紫外可見分光光度計    更新日期:2014-06-06 03:34:15   

①物理概念不同
基線平直度:是指
紫外可見分光光度計儀器全波段內每個波長上的噪聲,與濾光片切換和光源切換有關;
光度噪声:是指紫外可見分光光度計仪器在500nm波长上的N,与滤光片切换和光源切换无关。
②測試時儀器狀態不同
基線平直度:儀器處在運動狀態,儀器的波長始終在變化;
光度噪聲:儀器處在靜止狀態,儀器的波長始終不變。
③測試波長位置不同
基線平直度:測試儀器的全波長範圍內每個波長的噪聲;
光度噪聲:測試儀器固定在500nm處時的噪聲。
④測試時掃描方式不同
基線平直度:測試時用波長掃描方式;
光度噪聲:測試時用時間掃描方式。
⑤影響因素不同
基線平直度:影響基線平直度的因素如前述7個因素;
光度噪聲:影響光度噪聲的主要因素是電子學的元器件(特別是放大器和光電轉換元件),也包含少量的光噪聲。
⑥對分析測試誤差的影響不同
基線平直度:限制儀器實際可使用的波長範圍,影響儀器波長範圍內的檢測下限,在低濃度測試時是主要分析誤差的來源;光度噪聲:只影響儀器500nm處的檢測下限,主要作爲比較儀器好壞的依據之一,從此能粗略看出儀器性能好壞。


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